Ultra-hohe Auflösung für die Durchstrahlungsprüfung
15-12-2016 14:12

Ultra-hohe Auflösung für die Durchstrahlungsprüfung

DÜRR NDT revolutioniert mit seinem neuentwickelten DR 7 NDT CMOS-Detektor die digitale Radiographie, mit einem Pixelpitch von gerade einmal 19 µm wird eine Basis-Ortsauflösung von unglaublichen 25 µm erreicht. Das ermöglicht dem Anwender das Erreichen einer ultra-hohen Auflösung bei der Durchstrahlungsprüfung, die zudem rauscharmen und brillanten Aufnahmen sind somit sehr attraktiv für die Bereiche Luft- und Raumfahrt sowie Öl & Gas.

Durch seine kompakte Bauweise von 8,5 x 50 x 32 mm (H x W x D) ist der Detektor insbesondere ideal für kleine Rohre und Leitungen und kann auch an schwer zugänglichen Stellen oder sogar in einem Objekt platziert werden. Der Vorteil bei einer Platzierung in einem Objekt liegt darin, dass sich dadurch die durchstrahlte Wanddicke reduziert, dies führt zu einer Verkürzung der Röntgenzeit und zur Verbesserung der Bildqualität durch weniger Streustrahlung.

Um in der rauen Testumgebung zu bestehen besitzt der Detektor ein stabiles Aluminiumgehäuse, seine aktive Fläche von 36 x 26 mm wird durch eine widerstandsfähige Karbonschicht geschützt. Erschütterungen und Stöße werden durch den integrierten Shock Absorber abgefangen, so bleibt der CMOS Chip von äußeren Einflüssen unberührt.

Der Detektor wird direkt über den USB-Port am PC angeschlossen und mit Strom versorgt, sein 5 m langes USB-Kabel kann bei Bedarf verlängert werden. In Verbindung mit der bewährten und DICONDE-konformen D-Tect Software stehen sämtliche Funktionen wie Bildaufnahme, Analyse, Berichterstellung, Export, Archivierung und Datenbankverwaltung zur Verfügung. Über eine Softwareschnittstelle wird eine einfache Integration in automatisierte Prozesse ermöglicht.

DR 7 NDT CMOS-Detektor

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